※本ワークショップは終了しました。
開催趣旨
ナノテクノロジーの発展とともに、「ナノ」に関わる国際標準化はナノテクノロジーの標準化を審議する専門委員会ISO/TC229のみならず、様々な専門委員会(TC)で規格の開発が活発に行われており、日本の関係者も精力的に活動しています。
今回のワークショップでは、ナノテクノロジーと関連のある専門委員会や関連技術の専門家をお迎えし、ナノテクノロジー国際標準化の最新動向についてご紹介します。
開催概要
日時 |
2020年1月31日(金)13:10~16:30 (受付開始 12:30) |
会場 |
東京ビッグサイト 会議棟1階 102会議室(nano tech 2020に併催して開催) |
定員 |
100 名(参加費無料、先着順、定員になり次第締切) |
主催 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 ナノテクノロジー標準化国内審議委員会 |
問い合わせ先 |
ISO/TC229国内審議委員会事務局
Eメール:nanows2020-entry-ml*aist.go.jp(*を@に変更して送信下さい。) |
プログラム
時間
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内容
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講演者
(敬称略)
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所属
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13:10~13:15 |
挨拶 |
一村 信吾 |
ISO/TC229国内審議委員会 委員長
産業技術総合研究所 特別顧問
早稲田大学 リサーチイノベーションセンター 教授 |
13:15~13:40 |
来賓挨拶・講演
-標準化を巡る最近の動向と標準化戦略について- |
高田 元樹 |
経済産業省産業技術環境局 国際標準課 統括基準認証推進官 |
13:40-14:05 |
ダイヤモンドライクカーボン膜の
国際標準化の現状と将来像 |
平塚 傑工 |
ISO/TC107/JWG4 NP23216 プロジェクトリーダー
ナノテック株式会社 取締役 |
14:05-14:30 |
IEC/TC119(プリンテッドエレクトロニクス)の
標準化動向 |
小笹 健仁 |
IEC/TC119エキスパート 産業技術総合研究所 電子光技術研究部門 |
14:30-14:55 |
アジアナノフォーラム(ANF)の活動の現状
- 標準化、認証への動向を含めて - |
金山 敏彦 |
ANF前議長 産業技術総合研究所 特別顧問 |
14:55-15:10 |
休憩 |
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15:10-15:35 |
SAXS(小角X線散乱法)による粒子径解析の国際標準化
- 国際規格の策定作業と製品開発 - |
伊藤 和輝 |
ISO/TC24/SC4/WG10 シャドウコンビーナ
株式会社リガク |
15:35-16:00 |
ISO/TC202 マイクロビームアナリシスにおける
規格開発の現状と展望 |
大堀 謙一 |
ISO/TC202 日本代表 株式会社堀場製作所 開発本部 |
16:00-16:30 |
総括質疑
- ナノテクノロジー国際標準化の動きについて
(2019年活動報告) - |
竹歳 尚之 |
ISO/TC229 国内審議委員会 幹事
ISO/TC229 JWG2 セクレタリ
産業技術総合研究所 |