※本ワークショップは終了しました。
開催趣旨
ISO/TC229ナノテクノロジー技術委員会が2005年に立ち上がってから10年の節目を迎えました。
技術委員会設立当初に整備された規格の多くが定期的な見直しの時期を迎える一方で、欧州の規制を意識した規格提案やグラフェンやセルロースナノファイバーなど新しい材料に対する規格提案など取り扱う作業項目が増え、ますます活発になっています。
今回のワークショップでは、ナノテクノロジー国際標準化の最新の動向を織り交ぜながら、日本の標準化戦略や取り組みを紹介します。
開催概要
日時 |
2016年1月29日(金)13:10~16:10 (受付開始 12:30) |
会場 |
東京ビッグサイト 会議棟1階 102会議室(nano tech 2016に併催して開催) |
定員 |
100名(参加費無料、先着順、定員になり次第締切) |
主催 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 ナノテクノロジー標準化国内審議委員会 |
問い合わせ先 |
ISO/TC229国内審議委員会事務局
Eメール:nanows2016-entry-ml*aist.go.jp(*を@に変更して送信下さい。) |
プログラム
司会:竹歳 尚之(ナノテクノロジー標準化国内審議委員会 幹事)
時間
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内容
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講演者
(敬称略)
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所属
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13:10-13:40 |
「挨拶」及び
「ISO/TC229における日本の標準化戦略」 |
一村 信吾 |
ISO/TC229国内審議委員会 委員長
産業技術総合研究所 特別顧問
名古屋大学教授・イノベーション戦略室長/総長補佐 |
13:40-14:05 |
「ISOにおけるナノテクノロジーの計測と
キャラクタリゼーションの標準化戦略 |
古田 一吉 |
ナノテクノロジー標準化国内審議委員会
計量・計測分科会主査
セイコーインスツル株式会社
研究開発センター 技術企画管理部長 |
14:05-14:30 |
ナノ材料同定のための計測の階層的アプローチ |
須賀 三雄 |
日本電子株式会社 経営戦略室 |
14:30-14:55 |
電子顕微鏡を用いた粒子数分布計測法の標準化 |
山本 和弘 |
産業技術総合研究所 計量標準総合センター
分析計測標準研究部門 ナノ顕微計測研究グループ長 |
14:55-15:10 |
休憩 |
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15:10-15:35 |
ナノ材料の有害性試験方法の標準化戦略 |
岩橋 均 |
岐阜大学応用生物科学部 教授 |
15:35-16:00 |
ISOにおけるナノ材料の材料規格策定の戦略 |
田中 充 |
ナノテクノロジー標準化国内審議委員会 材料規格分科会主査
産業技術総合研究所 研究顧問 |
16:00-16:10 |
ナノテクノロジー国際標準化の動きについて
(2015年活動報告) |
竹歳 尚之 |
ナノテクノロジー標準化国内審議委員会 幹事
ISO/TC229 JWG2 セクレタリ
産業技術総合研究所 計量標準総合センター
物質計測標準研究部門 総括研究主幹 |