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走査電子顕微鏡の像形成と材料評価への応用
産業技術総合研究所 インダストリアルCPS研究センター
熊谷 和博 主任研究員
走査電子顕微鏡(SEM)は幅広い分野で重要な観察ツールであり、近年ではハード・ソフトの進歩により多彩な情報が得られるようになりました。その一方で、得られた像の解釈に迷う場合も少なくありません。そこで、本講演では、SEMの像形成メカニズムについて考えます。SEMの中で何が起きているのか、その結果どのような情報もった像が得られるのか、事例を交えながら議論します。
開催概要
| 日時 |
2024(令和6)年7月25日 木曜日 15時00分 ～ 16時30分 |
| 定員 |
100名（先着順） |
| 参加費 |
無料 |
| 開催形式 |
オンライン開催（Teamsを使用） |
ご案内・プログラムはこちらからご覧ください。[ PDF： 858 KB ]
お申し込み方法
下記の方法にてお申し込みください。申込締切：2024(令和6)年7月23日 火曜日
◆WEBからの参加申込み
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本件に関するお問合せ先
産業技術総合研究所中国センター 担当：井上
広島県東広島市鏡山3-11-32
電子メール：M-c-seminar-ml#aist.go.jp（#を@に変更して送信下さい）
MPIP 有機・バイオ材料拠点 セミナーとは
産総研中国センターは、マテリアル開発等に必要なプロセスデータの取得、技術シーズ・ニーズへの対応や人材育成に関わる機能を総合的に提供するマテリアル・プロセスイノベーションプラットフォーム（MPIP）の一拠点（有機・バイオ材料拠点）として整備され、当該材料に関わる事業への多面的な支援を開始しています。
MPIP 有機・バイオ材料拠点 セミナーは、本拠点発の情報発信・技術人材育成の一環として開催し、大学や企業等から講師をお招きしてモノづくりに関する多様な内容について話題提供をいただきます。