四国センター ニュース

　分析機器は機能性材料の開発や食品・医薬品などを含む種々の化学物質の試験・評価に欠かせません。一方機器自体の研究開発も日々進められ、 新たな機器や技術が続々と登場しています。
さらに分析計測技術は多くの基盤技術に支えられ、その進歩を実現しています。
本セミナーでは、産総研の研究成果である分析機器・技術とそれらの先端ナノ計測施設（ANCF）での公開利用方法の紹介および分析計測技術を先導する基盤技術の卓越した研究成果のご講演を通して、最先端の分析機器のこれからを皆様とともに展望したいと思います。
　
開催概要　　　

イベント名	産総研四国センター　新技術セミナー in 四国「先端分析技術セミナー」 ＆文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業　産総研 - 微細構造解析プラットフォーム 　令和3年度 第2回地域セミナー
日時	2021年12月21日 (火)　13:00　～　17:45
開催方法	Teamsを用いてオンライン形式で開催します
主催	産業技術総合研究所四国センター 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設（ANCF）　 産総研微細構造解析プラットフォーム・産総研マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）
参加費	無料
申込方法	産総研微細構造解析プラットフォームのHPの案内に従ってお申し込みください。 　https://unit.aist.go.jp/rima/nanotech/ancf03-ib.html 　　（申込締切：2021年12月14日 火曜日）
問い合わせ先	産業技術総合研究所 分析計測標準研究部門内 先端ナノ計測施設（ANCF）事務局 Eメール：ancf-info-ml*aist.go.jp（*を@に変更して送信下さい。）
プログラム その他詳細情報	（PDF:1.5MB）　　　　　　　（PDF:455KB）